Name: 用于α能譜測量的Si帶電粒子輻射探測器
Price: 面議 CNY
Availability: InStock

α能譜學中見的應用領域是放射化學、保健物理和環(huán)境樣品的篩查。這些應用的硅輻射探測器是耗盡深度≥100微米的ULTRA輻射探測器和具有超低背景的ULTRA-AS輻射探測器。

此外，許多設施繼續(xù)使用具有低背景又不透光的加固（R系列）面壘型輻射探測器。“SEE-NO-ALPHA”選件可提供保證的分辨率規(guī)格，并且未暴露于α源可防止反散射污染。

*所有分辨率測量均在21±1°C下執(zhí)行和保證。

**用5.486-MeV天然α粒子測量。

† ULTRA系列探測器采用離子注入二氧化硅鈍化技術制造。可為特殊訂單提供允許在200°C下烘烤的版本。

	ULTRA†	ULTRA AS†
主要應用	高分辨率、高效率的α和β能譜測量	超低本底的高效α能譜測量
主要特點/優(yōu)點	使用超薄接觸級，提供能量分辨率通過特設間距實現(xiàn)高效率采用表面鈍化技術保證器件穩(wěn)定性超長壽命的鍍金防護高品質和可靠性	使用超薄接觸級，提供能量分辨率通過特設間距實現(xiàn)高效率采用表面鈍化技術保證器件穩(wěn)定性超長壽命的鍍金防護高品質和可靠性
起始材料	Si	Si
有效面積范圍 (mm²)	25-3000	300–1200
有效厚度范圍 (µm)	100-500	100
保證工作溫度范圍*	+50°C 至 –30°C	+50°C 至 –30°C
二極管結構	注入硼 - N型Si作為部分耗盡注入	注入硼 - N型Si作為部分耗盡注入
名義當量窗口的截止能量**	入射 500 Å Si	入射 500 Å Si

用于α能譜測量的Si帶電粒子輻射探測器